破損檢測(cè)規(guī)格:缺陷尺寸大于0.1mm可檢出
檢測(cè)內(nèi)容:chipping、凸邊等
呈像方式:亮場(chǎng)反射式
異物檢測(cè)規(guī)格:0.1mm以上可檢出
過檢率:≤3%(過檢NG/總投入)
AOI NG處理方式:NG品通過NG傳送至緩存機(jī)構(gòu)
AOI信息上傳:AOI具備不良標(biāo)示功能并將檢測(cè)信息上傳CIM